產(chǎn)品簡介
用于腐蝕檢測的雙晶線性陣列（DLA）探頭，與常規(guī)超聲雙晶探頭相比，具有更多優(yōu)勢特性。這種相控陣解決方案，通過諸如更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，及具有更高數(shù)據(jù)點密度的C掃描成像等特性，提高了檢測效率。與標(biāo)準(zhǔn)的相控陣脈沖回波相比，這款新探頭所使用的一發(fā)一收技術(shù)在腐蝕測量應(yīng)用中可提供更好的近表面分辨率及更強的點蝕探測能力，從而可提高危害性壁厚減薄的探出率。
得益于一些新添特性，例如：內(nèi)置灌溉，以及可使探頭更好地貼附于管材曲面的可更換式弧面延遲塊，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭現(xiàn)在可用于完成自動檢測。
探頭的優(yōu)勢和特性
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可探測表面以下1毫米的缺陷。
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性價比較高的可更換式延遲塊。
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內(nèi)置灌溉。
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高溫選項，可掃查熱表面。
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聲束覆蓋寬度高達30毫米。
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用途廣泛且調(diào)整迅速的系統(tǒng)，可適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測。
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堅固耐用的硬質(zhì)合金防磨板，可保護楔塊。
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碳鋼材料典型的檢測深度范圍為1毫米到80毫米。
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USB存儲盤中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）。
OmniScan軟件的特性
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側(cè)視圖、端視圖和俯視圖成像（B掃描、D掃描和C掃描）。
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完整的高分辨率A掃描存儲。
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兩個可配置的探測閘門。
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在OmniScan探傷儀或使用OmniPC軟件的計算機中進行離線分析。
新特性，新潛能
將雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭和OmniScan SX探傷儀組合在一起使用是為用戶提供的一種價格合理的檢測解決方案。這種解決方案的設(shè)置和操作簡便易行：加載所提供的設(shè)置文件，對儀器進行校準(zhǔn)，然后進行檢測并記錄數(shù)據(jù)。無需使用脈沖發(fā)生/接收（PR）儀器。
無論是在使用編碼器對某個區(qū)域進行手動掃查時，還是在使用MapROVER電動掃查器進行高速全體積成像操作時，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭都可以在光滑的表面上快速方便地完成C掃描成像操作。添加了可更換式弧面延遲塊和灌溉特性的創(chuàng)新型探頭穩(wěn)定系統(tǒng)，可在直徑小如4英寸的管材表面上提供優(yōu)質(zhì)的聲傳播效果。用戶還可以訂購高溫雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭，這款探頭可以在溫度高達150°C的表面上進行檢測。
在自動檢測中與MapROVER掃查器一起使用的DLA腐蝕探頭。
雙晶陣列一發(fā)一收技術(shù)
與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發(fā)射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在切有固定屋頂角的延遲塊的兩部分上。這種配置可以生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可極大地降低表面反射的波幅。這種配置還可以提高近表面分辨率，得到對諸如點蝕、蠕變損傷、和HIC（氫致裂紋）等危害性缺陷的更高的探出率。
一發(fā)一收
脈沖回波
與相控陣脈沖回波相比，一發(fā)一收技術(shù)僅生成極小的界面回波，可提供更好的近表面分辨率。
碳鋼管道上腐蝕缺陷的B掃描圖像
