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半導體與平板顯示器檢測顯微鏡
在冶金、鋼鐵、航空、機械、電子、化工等行業及學校和科研機構領域較全面的為用戶提供理化檢測相關設備的技術咨詢、安裝調試、維護維修及人員培訓等技術支持
半導體與平板顯示器檢測顯微鏡
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晶圓搬送機 AL120
適應范圍廣、搭配靈活 對應多種尺寸組合 我們推出了200 mm專用型、200 mm/150 mm兼用型和150 mm型（對應小于150 mm的晶圓）的3種型號。除此以外，您還可以根據檢查模式，選用微觀檢查專用型號L型或微觀宏觀檢查兼用型號LMB型。 晶圓尺寸厚度對應表 薄片檢查...
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檢測顯微鏡 MX63/MX63L
讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢 MX63和MX63L顯微鏡系統特別適合尺寸最大300毫米的晶圓、平板顯示器、電路板、以及其他大尺寸樣品的高質量檢測。其采用的模塊化設計可讓您根據需要選擇組件，獲得根據應用定制的系統。 這兩款符合人體工學設計且人性化的顯...
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晶圓搬送機 AL120-12
AL120-12晶圓搬送機對應可使用FOUP（裝載口）和FOSB，適用于低成本的后期檢查。安全且符合人體工程學的設計確保了操作人員在搬送晶圓時（包括薄晶圓和變形晶圓）的效率和安全。 人機工程學設計，操作方便 可以自由設置的檢查模式，在設計上考慮了后道工程中...
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半導體、FPD檢查顯微鏡 MX-IR / BX-IR
MX-IR / BX-IR MX-IR/BX-IR是像透過玻璃似的可透視紅外線顯微鏡。適用于封裝芯片、晶圓級CSP/SIP的非破壞檢查。 非破壞觀察半導體器件內部 隨著不斷發展的電子設備小型化、超薄化的需求，半導體器件的封裝技術也高速進化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（Sy...
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半導體、FPD檢查顯微鏡 AL120-12
AL120-12 AL120-12晶圓搬送機對應可使用FOUP（裝載口）和FOSB，適用于低成本的后期檢查。安全且符合人體工程學的設計確保了操作人員在搬送晶圓時（包括薄晶圓和變形晶圓）的效率和安全。 人機工程學設計，操作方便 可以自由設置的檢查模式，在設計上考慮了后...
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