OmniScan X3是OmniScan家族中的最新成員，于2019年11月正式上市，是OmniScanMX2全面升級替代型號，能迅速進(jìn)行檢測，并同時(shí)生成材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確、詳細(xì)的橫截面圖像。相控陣技術(shù)使用使用多個(gè)超聲晶片和電子時(shí)間延遲，產(chǎn)生可轉(zhuǎn)向、可掃描、可掃查，以及可電子聚焦的聲束，進(jìn)行快速檢測、完整數(shù)據(jù)存儲以及多角度檢測。利用相控陣技術(shù)進(jìn)行的檢測，測量精確、結(jié)果可靠。這款儀器在硬件及軟件參數(shù)上進(jìn)行了全面升級優(yōu)化，并且新添了諸如全聚焦方式（TFM）圖像等一些強(qiáng)大的功能，從而可使用戶更加信心十足地完成檢
